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一种腹腔镜手术钳的疲劳性能测试装置 CN201610513824.8 2018-11-20 本发明公开了一种腹腔镜手术钳的疲劳性能测试装置，其特征在于，包括往复运动装置、拉杆头固定装置、外套管固定装置、压力装置和力测量装置，腹腔镜手术钳的钳杆的外套管以及钳杆的拉杆头分别设置于外套管固定装置和拉杆头固定装置上。本发明的技术效果在于，结构设计合理，结构简单，能够有效的降低测试成本和避免主观因素带来的影响，测试速度快且结果准确，有效的保证了产品的安全性与有效性。 专利权的授权
柔性冲吸头 CN201310437369.4 2015-08-26 本发明公开了一种柔性冲吸头，用于医疗过程中对患处进行清洗，所述冲吸头包括锥形的膜状内壁和外壁围成的一个喇叭状腔体，所述腔体的环形大端封闭，环形小端开口并与注水通道连通，所述冲吸头的内壁围成的锥形空间小端与吸水通道连通，所述内壁上设有喷孔。本发明可实现医疗清洗过程中的无损伤冲洗，操作方便，通过调整液体压力可以实现液体从喷孔喷出的角度，起到调整冲洗区域的功能，既保证冲洗效果，又具有良好的回吸效果，并且冲吸头的喷孔可以起到锁水的作用，不会出现冲洗间隙出现的液体滴漏现象，可广泛应用于医疗护理中需要冲洗清洁的各个场合。 专利权的授权
脉冲式口腔护理清洁器 CN201210455948.7 2015-01-07 本发明公开了一种脉冲式口腔护理清洁器，包括储水仓、回收仓、主机、冲吸头，冲吸头的前端为单管双腔管道，其后端从前端的两个腔分别引出冲洗输入管道和回收输出管道，冲洗输入管道通过水泵与所述储水仓连通，注入冲洗液，回收输出管道通过真空泵与回收仓连通，通过负压回收冲洗废液；储水仓、回收仓、水泵和真空泵都设置与所述主机上。本发明运用脉冲式水柱冲洗原理，调节冲洗液水柱的频率来清洗牙缝和口腔各个角落，并对于口腔壁达到按摩的效果，最大可能的减少了清洗的损伤而且提高了护理过程中病人的舒适度，冲洗清洁效果提高，同时大幅度降低该产品的使用成本。 专利权的授权
一种一次性微创手术剪刀片的制备方法 CN201110330197.1 2013-09-11 本发明公开了一种一次性微创手术剪刀片的制备方法，将不锈钢粉末基体材料与粘结剂经过混炼、制粒获得均匀喂料，然后采用粉末注射成形技术，完成喂料的注射，获得剪刀片的注射坯，然后经过脱脂工艺将粘结剂脱出，并将脱脂后的坯体进行烧结，最终进行热处理强化从而获得一次性微创手术剪刀片产品。本发明采用粉末注射成形技术制备微创手术剪刀片，可以一次成形出所具有的形状，采用模具量产的工艺，自动化程度高，性能好，产量大，无需后续加工，原材料利用率高，成本低，从而能实现微创手术剪的一次性推广。 专利权的终止
一种包覆结构金属零部件的制备方法 CN200910043470.5 2010-08-04 本发明公开了一种包覆结构金属零部件的制备方法，将铁粉、镍粉、铬粉混合均匀后与粘结剂混合制粒；采用粉末共注射成形技术，先注射成形壳层部分，再注射成形芯层部分，两次注射成形的喂料不同；注射成形坯经脱脂和烧结后，得到制品。本发明是一种通过测定烧结应变速率差异，提供共烧结相容性基本判定标准；通过测定不同喂料粘度差异，提供共注射相容性基本判定标准，从而确定制备包覆结构金属零部件工艺相容性判定标准。 专利权的终止
一种多核处理器及其工作方法 CN202411106281.9 - 本申请提供一种多核处理器及其工作方法，该多核处理器包括主核处理单元和微核阵列处理单元，主核处理单元与微核阵列处理单元电连接，微核阵列处理单元包括多个相互独立的片区，每个片区均包括至少一个微核。本申请将微核阵列处理单元划分为多个固定大小的片区，每个片区均包括至少一个微核，通过主核处理单元分别对每个片区及其内部的微核进行管理，并对其合理的分配计算机任务，使微核能单独高效的执行，或者和同一片区内的其它微核一起协同完成；有效提高了该多核处理器的工作效率，提升了整体的性能；且主核处理单元的有效管理机制也使得资源能充分得到利用，同时避免了多个微核之间的通信冲突。 公开
MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理系统及方法 CN202411089206.6 - 本发明涉及芯片测试技术领域，具体涉及一种MCU芯片ADC模块性能测试与数据自动处理系统及方法，包括信号源、DAC模块、被测MCU芯片和上位机系统。信号源用于ADC动态参数测试，DAC模块生成测试信号。被测MCU芯片通过信号通路选择电路连接至信号源和DAC模块。上位机系统控制设备，接收和处理数据，实现ADC不同通道的测试。本发明优化了流片阶段MCU片上ADC模块测试程序，缩短了测试时长。通过上位机对电源的精准控制，可获取不同电压点的测试数据，评估性能参数。借助上位机程序，可快速直观地获得测试数据的分析结果，反映潜在问题。 实质审查
MCU芯片功能测试集成复用系统及方法 CN202411089200.9 2024-10-29 本发明涉及一种MCU芯片功能测试集成复用系统及方法，以FPGA为载体，接口复用互连为核心实现引脚根据配置互连复用；构建通信接口实现与主控芯片通信；构建信息处理模块将接收到的信息进行解码或者将返回的信息编码；构建系统控制逻辑单元根据解码的指令对控制寄存器写入/读取数据或对控制单元控制动作；构建数据返回模块根据接收到的指令将需要返回的数据筛选打包，构建接口实现引脚与系统的连接。最终实现一个可接收控制指令，可根据指令将接口上的信号线相对应的复用连接，或返回相对应控制寄存器的值，实现外部接口的互相连接与复用，以此实现被测芯片端口与信号监测或者激励信号端口连接来达到芯片测试的目的。 实质审查
适用于MCU片内集成ADC、DAC的测试系统及方法 CN202411089183.9 - 本发明公开了一种适用于MCU片内集成ADC、DAC的测试系统及方法，该系统包括主控DSP、数模转换模块、模数转换模块和待测MCU，模数转换模块用于对待测MCU的片内DAC进行测试；数模转换模块用于对待测MCU的片内ADC进行测试；主控DSP用于负责与模数转换模块与数模转换模块进行交互，包括控制数模转换模块与模数转换模块开始转换、对模数转换模块和数模转换模块转换的测试数据进行计算后得到想要的测试结果、以及控制总体测试模块的时序。本发明通过优化测试流程、集成关键测试组件并减少对外部设备的依赖，显著提升ADC、DAC测试的效率和准确度，同时大幅度削减测试过程中的成本和时间消耗。 实质审查
一种集成电路ATE关联板级测试方法 CN202411089853.7 - 一种集成电路ATE关联板级测试方法，涉及集成电路测试技术领域，包括：S1、确定ATE测试参数；S2、根据所述测试参数确定测试样品；S3、对所有测试样品进行编号；S4、所述测试样品进行ATE测试得到ATE测试数据；S5、根据所述ATE测试数据选取EVB测试样品；S6、进行EVB测试得到EVB测试数据；S7、对ATE测试数据与EVB测试数据进行一致性分析；S8、通过预设裕量策略对ATE测试门限进行更新或设置。本发明利用ATE与EVB板级关联之间相关性对ATE测试门限进行调整，减少了不必要的良品率损失，提高了测试标准的合理性与准确性，进一步提高了ATE测试的效率。 实质审查