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机顶盒测试用的码流文件的数据修改方法及装置 CN201710740779.4 2021-05-11 本发明提供了一种机顶盒测试用的码流文件的数据修改方法，该方法包括如下步骤：原码流文件转换为节数据结构：将原码流文件的数据包解析为多个数据表，每个所述数据表均转化为节数据结构并放入对应的所述数据表的全局节数据结构，其中，需要修改的所述数据表定义为目标数据表；将所述目标数据表的节数据结构的数据内容修改呈新节数据结构；新码流文件的生成：将所述新节数据结构转化为新数据包，并按所述目标数据表的发送间隔将所述新数据包写入所述原码流文件，生成新码流文件。本发明还提供了一种机顶盒测试用的码流文件的数据修改装置。相关技术相比，本发明的机顶盒测试用的码流文件的数据修改方法及装置测试效率高且准确性好。 专利权的授权
PCIE SSD自定义日志的存储方法、装置及SSD CN201710718441.9 2021-07-27 本申请提供了一种PCIE SSD自定义日志的存储方法、装置及固态硬盘，方法包括：为SSD分配允许其进行读操作和写操作的主机内存的地址，所述地址至少对应一个缓存区域；将来自于SSD控制芯片的自定义日志按照所述地址存储于所述缓存区域；按照预设的下刷策略，将写入所述缓存区域中的自定义日志下刷到除本SSD以外的其他磁盘。本申请中，主机将SSD生成的自定义日志存储在内存中，再按照预设的下刷策略将缓存在内存中自定义日志下刷到主机的其他磁盘内长期保存，使得自定义日志的缓存和下刷都位于主机侧，这样，即使SSD出现故障，主机也能够顺利读取其他磁盘内的自定义日志，以便识别自定义日志中记录的SSD的运行信息。 专利权的授权
一种固态硬盘分级存储方法及系统 CN201710687271.2 - 本申请实施例公开了一种固态硬盘分级存储方法及系统包括：将TLC芯片存储区域划分为SLC动态子存储区和TLC动态子存储区；根据预设的数据监控粒度监控SLC动态子存储区和TLC动态子存储区中的数据块活跃度；如果SLC动态子存储区和TLC动态子存储区中数据块的数据活跃度与预设的数据活跃度阈值比较，满足数据迁移的条件，则将SLC动态子存储区和TLC动态子存储区中的所述数据块进行迁移。将TLC芯片动态划分，实现了TLC芯片存储数据的灵活性，初始数据存储到SLC动态子存储区，随着数据读入的增多，根据数据的活跃度将冷热数据分别存储，数据访问直接在SLC动态子存储区中完成，从而提高了TLC芯片的数据读取速度。 专利申请的驳回
SOC芯片调试方法及调试系统 CN201710673491.X 2021-07-27 本发明提供了一种SOC芯片调试系统，所述SOC芯片调试系统包括调试主机、电路板和SOC芯片，所述调试主机与所述电路板通过无线协议进行连接，所述SOC芯片设置于所述电路板。与相关技术相比，本发明提供的SOC芯片调试方法及系统具有以下有益效果：调试主机与电路板之间不再有位置限制，可以使用无线局域网调试，或Internet远程调试；调试SOC芯片不再需要仿真调试器与下载线，且可以同时对多颗SOC芯片进行调试；更换CPU或升级CPU后，需要调试时只需要更换或升级调试软件；能够非常方便的同时调试多个局域网内或Internet上的调试目标；可以大幅提高JTAG接口工作频率，数据传输速度更快。 专利权的授权
双环路滤波的锁相环电路 CN201710665531.6 - 本发明提供了一种双环路滤波的锁相环电路，包括依次串联形成回路的鉴相器、双路电荷泵及环路滤波单元、电压电流转换及电流加法电路单元、电流控制振荡器及分频器；所述鉴相器的输入端连接至参考时钟信号端；所述电压电流转换及电流加法电路单元用于将所述双路电荷泵及环路滤波单元输出的控制电压转换为电流；所述分频器的输出端连接至所述鉴相器的反馈输入端。与相关技术相比，本发明的双环路滤波的锁相环电路其结构简单，成本低、功耗小且稳定性高。 专利申请的驳回
数字低压差稳压器 CN201710665533.5 2019-02-05 本发明提供了一种数字低压差稳压器，包括功率调整晶体管、第一采样电阻、第二采样电阻以及脉宽调制产生电路；所述功率调整晶体管的源极连接至电源电压，其漏极作为输出端，且通过形成串联的所述第一采样电阻和所述第二采样电阻接地，其栅极接收所述脉宽调制产生电路生产的控制信号以实现所述功率调整晶体管的导通和关断；所述脉宽调制产生电路连接至基准电压实现其电压输入；所述脉宽调制产生电路连接至所述第一采样电阻和所述第二采样电阻之间，用以接收所述第一采样电阻和所述第二采样电阻反馈的采样信号。与相关技术相比，本发明的数字低压差稳压器电路结构简单，输出电压纹波小，性能稳定且成本低。 专利权的许可
低电压带隙基准源电路 CN201710668441.2 2019-02-05 本发明提供了一种低电压带隙基准源电路，包括：负温度系数电流产生电路，用于产生负温度系数电流；电压相减电路，用于对所述负温度系数电流产生的不同温度系数的电压进行相减运算。与相关技术相比，本发明提供的低电压带隙基准源电路具有如下有益效果：可以输出1V以下的基准电压；工作电源电压低；基准电压的输出阻抗低，可以直接驱动阻性负载；省略了输出缓冲放大器。 专利权的许可
BMC芯片、服务器端及其远程监控管理方法 CN201710638536.X 2021-07-27 本发明提供了一种BMC芯片，包括与各功能单元实现相互通讯的系统总线；存储预设密钥和所述BMC芯片的ID的存储模块；主板控制接口单元，用于连接服务器主板实现通讯；网端模块，用于连接客户端以接收客户端发出连接请求和验证密码；主处理器，用于控制所述主板控制接口单元连接服务器主板实现通讯控制；安全子系统，用于读取所述存储模块内存储的所述预设密钥、所述BMC芯片的ID以及所述网端模块接收的所述验证密码，按预设规则实现对所述验证密码的验证。本发明还提供了一种服务器端及一种服务器端远程监控管理方法。与相关技术相比，本发明的BMC芯片、服务器端及其远程监管管理方法安全性高且可靠性好。 专利权的授权
一种提高闪存数据存储可靠性的方法及系统 CN201710617886.8 2020-07-14 本申请公开了一种提高闪存数据存储可靠性的方法及系统，用于固态硬盘，所述方法包括：接收硬件纠错模块发送的第一数据块上的待读取数据，根据软件纠错算法对所述待读取数据进行数据纠错；当所述待读取数据进入预设纠错步骤、且在所述软件纠错模块纠错成功，将所述第一数据块进行标记；判断所述第一数据块被标记的次数是否达到预设阈值；如果所述第一数据块被标记的次数未达到所述预设阈值，将纠错后的所述待读取数据写入第二数据块，以及将除所述待读取数据以外的所述第一数据块上的数据搬移。本申请提供的提高闪存数据存储可靠性的方法及系统，在Nand使用中提高数据存储可靠性，提高了固态硬盘中数据存储可靠性。   专利权的授权
一种机顶盒可靠性的测试方法及系统 CN201710546785.6 - 本申请公开了一种机顶盒可靠性的测试方法及系统，涉及测试技术领域，为解决待测试机顶盒可靠性的测试准确度低的问题而发明。本申请的系统包括：放置于可程式恒温恒湿试验箱内部的待测试机顶盒，可程式恒温恒湿试验箱用于为待测试机顶盒提供恒温恒湿的环境；分别与待测试机顶盒连接的视频监视器、控制器、下位机、以及数字电视信号源，视频监视器用于监视待测试机顶盒输出的音视频信号是否正常，控制器用于接收待测试机顶盒的反馈结果，下位机用于发射待测试机顶盒的控制信号；控制器与可程式恒温恒湿试验箱连接，控制器还用于控制可程式恒温恒湿试验箱的温度值和湿度值；控制器与下位机连接。本申请主要应用于测试机顶盒的过程中。 专利申请的驳回