专利标题 公开号/公告号 公开日期 摘要 专利状态
提高光学元件损伤阈值的装置及具有高损伤阈值的DOE匀化装置 CN202410780876.6 - 本发明公开了一种提高光学元件损伤阈值的装置及具有高损伤阈值的DOE匀化装置，涉及光学元件技术领域，提高光学元件损伤阈值的装置包括：镜架和制冷系统，所述镜架用于承载光学元件，所述镜架由具有导热性的金属制成；所述制冷系统用于给所述镜架和/或所述光学元件降温。具有高损伤阈值的DOE匀化装置，包括光学元件和如上所述的提高光学元件损伤阈值的装置。本发明通过镜架来对光学元件进行散热，并通过制冷系统来对镜架和光学元件进行降温，以达到提升光学元件损伤阈值的目的。 实质审查
一种检测光子计数器线性区间的装置和方法 CN202410772596.0 - 本发明属于精密仪器校正设备技术领域，具体涉及一种检测光子计数器线性区间的装置和方法。装置按照光传播路径依次包括光源、连续衰减片、积分球、小孔切换机构和遮光壳体；在遮光壳体中设置有聚光机构、滑动工作台、转接工装和计数盒；所述光源用于提供激光；所述连续衰减片用于调节激光的光强；所述积分球用于实现激光的匀化；所述小孔切换机构用于控制从积分球出射的光信号；所述聚光机构用于将光送到光子计数器处。本发明中利用积分球对稳定性较好的激光进行了极大的弱化以及匀化，再通过小孔切换机构可以产生一系列的梯度入射光强并给到光子计数器，最后通过简单的数据运算得到光子计数器的线性区间，实现了快速检测与验证的效果。 实质审查
一种电动光学狭缝自动标定系统及方法 CN202410772751.9 - 本发明属于精密仪器校正设备技术领域，具体涉及一种电动光学狭缝自动标定系统及方法，系统包括支撑机构、图像采集机构和工作平台，图像采集机构通过转接件安装在支撑架上；所述工作平台位于图像采集机构的下方，工作平台包括电动位移台和样品台；样品台安装在电动位移台上，电动位移台用于调节样品台的位置，在样品台上设置有用于安装电动光学狭缝的限位工装。本发明中利用图像采集机构观察电动光学狭缝的左右刀口的像素位置计算狭缝的距离，从而得到狭缝开度与电机步进的线性关系。相比于采用轮廓仪、二次元等大型自动测量设备来标定狭缝，本发明的成本更低，且准确度高，耗时短。 实质审查
光束扫描器 CN202410722139.0 - 本发明涉及光学技术领域，公开一种光束扫描器，以提高衍射效率、扩展波段适用范围并缩减体积。本发明光束扫描器包括共光轴且栅线方向平行的至少两级有源液晶偏振光栅，各级有源液晶偏振光栅的第一导电层和第二导电层分别以导线与电压施加电路连接，各个电压施加电路与总控制器连接；该总控制器用于标定各级有源液晶偏振光栅所组成整体在各光束偏转角在特定波长光源所对应的各电压施加电路的状态，以在光束扫描过程中根据该标定关系指令各个电压施加电路在各个光束扫描偏转角之间进行状态的同步切换；任一电压施加电路所对应的状态包括过饱和状态、未施加电压状态及偏转且衍射效率最佳状态。 实质审查
穆勒矩阵椭偏仪及其检测方法 CN202410721124.2 - 本发明涉及光学技术领域，公开一种穆勒矩阵椭偏仪及其检测方法，以降低成本并提高检测效率。包括：成对称结构的起偏组件和检偏组件，起偏和检偏组件各包括一个分区域波片和一个线性偏振片，各分区域波片设有截面为扇环的八个区域，该八个区域的内径及外径尺寸一致，且每两个区域为快轴方向相同的一组，快轴方向分为四个方向，各扇环的相位延迟量一致，第一分区域波片中任一扇环的出射光束覆盖第二分区域波片中相邻的两个扇环的局部，且第一分区域波片中扇环所对应快轴方向的排布顺序与第二分区域波片中扇环所对应快轴方向的排布顺序不同，以形成两个分区域波片16种不同的与16个探测单元一一对应的扇环快轴方向组合。 实质审查
波片测量系统 CN202410720914.9 - 本发明涉及光学技术领域，公开一种波片测量系统，以提高测量精度和广度。本发明系统包括：光源；分立于被测波片两侧的起偏器和检偏器；用于驱动检偏器的检偏方向与起偏方向之间夹角变化的旋转装置，设有跟踪两偏振方向夹角所对应位点的编码器；与所述编码器连接的光谱仪，用于被所述编码器硬触发以逐一采集并分析检偏器在各位点所出射光束中，任一波长所对应的光强；与所述光纤光谱仪及所述编码器连接的控制主机，用于将起偏角设为参考0°，并将目标波长所对应的光强信息与位点进行对齐，对离散的光强‑位点分布信息做傅里叶变化后提取出偏振方向夹角所对应的二次项系数，再根据该二次项系数计算出被测波片的快轴方向和相位延迟量。 实质审查
光损伤阈值测试系统 CN202410419616.6 - 本发明涉及光学技术领域，公开一种光损伤阈值测试系统，以便捷高效地测试和评估光学元件的LIDT值。系统包括：激光光源、光束准直装置、光强衰减装置、聚焦装置和位移台；光束准直装置位于激光光源与光强衰减装置之间，聚焦装置位于光强衰减装置与位移台之间；位移台受控于控制主机，控制主机与光功率计连接；控制主机用于控制装载被测光学元件的位移台沿光轴方向由前向后按步长移动，并在移动过程中，通过光功率计检测被测光学元件透射或反射后输出光束的光功率强度是否出现突变，如果突变，根据突变所在位置所对应的被测光学元器件表面的光束入射功率和光斑大小计算光损伤阈值。 实质审查
一种基于量子弱测量的位移台精密测量方法及装置 CN202410389162.2 - 本发明涉及精密测量技术领域，具体涉及基于量子弱测量的位移台精密测量方法及装置。其装置光路传播方向依次包括光源、前选择模块、马赫‑曾德尔干涉仪，后选择测量模块。其利用光的两个正交的偏振态作为系统的本征态，而一个宽带光源（SLD）的高斯谱形作为指针态与待测的微小相位产生弱耦合，通过选择合适的前后选择态将该信号进行放大，利用出射指针的动量移动来实现对于相位的检测。本发明采用了弱值放大技术，以丢失部分探测概率为代价，放大微小的物理效应、提高了灵敏度，测量精度也得到巨大地提升，特别适合微小相位的测量；对环境要求低，系统稳定性高；且灵敏度可调节，根据不同的测量范围匹配不同的灵敏度需求。 实质审查
准直匀化转换器 CN202410265810.3 - 本发明涉及光学技术领域，公开一种准直匀化转换器，以提高准直光束光斑匀化及长距离传输性能。本发明转换器包括：第一线性偏振片和第二线性偏振片，以及位于所述第一线性偏振片与所述第二线性偏振片之间的1/2波片，所述1/2波片包括共圆心的均匀配相区域及位于所述均匀配相区域内的匀光区域；所述均匀配相区域的快轴方向一致，所述匀光区域的快轴方向根据半径由圆心向外延伸方向上进行特定变化以使得光斑大小适配于出射光斑内接圆直径大于1毫米的光斑传输距离可提升至大于7米。 实质审查
一种激光扩束准直匀化系统 CN202410244693.2 - 本发明属于激光技术领域，具体涉及一种激光扩束准直匀化系统，其包括沿光的传播方向依次设置的扩束模块和准直匀化模块，所述扩束模块用于对激光进行扩束，所述准直匀化模块用于对激光进行准直和匀化，所述准直匀化模块由若干平面相位片组成。本发明中的激光扩束准直匀化系统，可以同时实现激光的扩束、准直及匀化功能，结构简单，使用方便；通过平面相位片实现匀化功能，相比于采用传统的非球面透镜，成本更低；且匀化效果更好，本发明平面相位片中的相位膜上各个位置的相位可以通过软件进行精确设计，使得相位膜可以对每一条光线均进行精确控制，即通过设计相位膜上各个位置处的相位来精确地对激光光斑进行匀化。 实质审查